On demand schauen: „Lock-In-Thermografie für Elektronik- und Halbleitermodulprüfung“
Die Inspektion elektronischer Komponenten und Baugruppen mit Hilfe der Aktiv-Thermografie ist ein etabliertes Prüfverfahren zur Fehlersuche und Qualitätssicherung – von der Prototypen-Entwicklung bis hin zur […]